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半導体デバイス-テスト開発エンジニア

日付: 2018/06/03

場所: Higashi Hiroshima, 34, JP

会社: Micron

ジョブナンバー  110285 

【職務概要】

マイクロンメモリジャパン、研究開発部門でのProbe Engineerはテストプログラムの設計・開発、新しいテスト手法開発、電気的特性評価データの解析などに従事していただきます。

プロセスインテグレーションチーム、製品開発チーム、歩留まり向上チームと協働で次世代DRAMのテスト業務全般、並びに量産に向けたスムーズな技術移管を担って頂きます。

 

【業務内容】

・テストプログラムの設計

・テスト時間・コストを抑えるためのより効果的なテスト手法の開発

・テストプロセスの自動化のためのプログラミング開発

・膨大なデータをより詳細に分析するための手法の開発

・新規製品と量産対応テストの立ち上げ

・社内、社外のサプライヤーと協働で新たなテスト手法の開発

・他部門と協力して、歩留向上、特性向上、信頼性向上を行う

 

【求めるスキルなど】

・電気・電子回路の知識(トランジスタ動作、・デジタルシステム・ロジックゲート、メモリテスタ動作等)

・基礎的な半導体デバイス物理の知識

・コンピュータプログラミングとデバックスキル、C++専門知識を持っていることが望ましい

・技術面での良好なコミュニケーションスキル

 

【学歴】

工学・コンピューターサイエンス専攻(学士以上)

 

【歓迎するプログラミングスキル】

・C++ 

・基礎的なUnix/Linux

・Python/Perl  

 

【歓迎するその他のスキル・経験など】

DRAMの半導体メモリデバイスの知識

自動テスト装置の使用経験

 

当社は従業員の求人、採用、教育、昇進、懲罰、雇用の他の条件の提供を行う際に、個人の人種、肌の色、宗教、性別、年齢、国籍、身体障害、性的指向、性自認、性表現、妊娠、軍歴、または法的に保護されているその他の分類要素を考慮しません。これには、チームメンバーの身体障害または信仰および慣習に関する相応の便宜も含まれます。


各マネージャー、スーパーバイザー、チームメンバーには、この方針を実行する責任があります。人事部のEEO管理者がこの方針の管理を担当します。EEO管理者は方針の順守状態を監視します。また、EEOに関する質問に答えることができます。


応募処理の支援を求めるには、マイクロンの人事部1-800-336-8918(または208-368-4748)までお問い合わせください。


キーワード Higashi Hiroshima || Hiroshima (JP-34) || Japan (JP) || Technology Development || エントリーレベル(未経験) || 正社員 || エンジニアリング || #LI-AD1; #LI-AH1; #LI-AW1; #LI-A朱1; #LI-CC1; #LI-CC2; #LI-CY1; #LI-DG1; #LI-DK1; #LI-EY1; #LI-FF1; #LI-IT1; #LI-JC1; #LI-JC2; #LI-JF1; #LI-JS1; #LI-JT1; #LI-KD1; #LI-KL1; #LI-KV1; #LI-LA1; #LI-LC1; #LI-LP1; #LI-LT1; #LI-LY1; #LI-MC1; #LI-MH1; #LI-MH2; #LI-MH3; #LI-MO1; #LI-MP1; #LI-MT1; #LI-MW1; #LI-NH1; #LI-OL1; #LI-PC1; #LI-RL1; #LI-RS1; #LI-RV1; #LI-SING ; #LI-SS1; #LI-ST1; #LI-VL1; #LI-YL1; #LI-德孔1; #LI-毓马1; #LI-淯鐘1; Not Applicable ||


業界: Linux, Technology