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半導体メモリ測定装置エンジニア

Higashi Hiroshima, 34, JP

ジョブナンバー  169163 

半導体メモリ-測定装置(膜測・OCD・ストレス・質量など)アプリケーション担当として以下のような業務に従事して頂きます。

 

  • 測定装置の条件設定作成
  • 歩留まり・品質改善を目的とした新規測定手法の確立
  • ビジネス要求に応じて測定装置の性能改善の実施
  • 装置メーカーと協業して、測定における起因の問題解決
  • 海外工場のメンバーと協業して、測定における起因の問題解決

 

【求める経験・スキルなど】

 Must(必須項目)

  • 4年制大学卒(理系専攻)
  • データ収集能力及び、その分析能力
  • PC操作が十分に出来る事(Excel, Word, PowerPoint)

 

 

 Want(望ましい項目)

  • 測定装置の知識があり、測定に起因の問題を解決できる能力
  • 装置パフォーマンスを示す指標が理解できている(稼働率,ロットHold, etc)
  • 英語力(台湾やシンガポールやアメリアのエンジニアとメールでのやり取りが可能)
  • DRAMの基本知識がある 

 

雇用形態:正社員

勤務形態:日勤

勤務地:マイクロン東広島工場(最寄り駅:山陽本線・西条駅)

想定年収:400万円~1000万円(未経験者の場合は、400万円~)※残業手当・業績給は含みません。

 

すべての候補者は、人種、肌の色、宗教、性別、性的指向、性同一性、国籍、軍歴または障害の有無に関係なく、雇用について検討されます。

米国のサイトのみ:応募手続きの支援または、合理的な調整を希望する場合には、マイクロンのHR 1-800-336-8918(または208-368-4748)までご連絡いただくか、求人情報請求フォームをご提出ください。提出先: General Contact Form


キーワード Higashi Hiroshima || Hiroshima (JP-34) || 日本 (JP) || Frontend Manufacturing || 新卒 || 正社員 || エンジニアリング || #LI-MO1 ||Tier 3 || 

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